M. Thibaut I; M. Ansel II
I Charge de Recherche au C.N.R.S. II Chef de Travaux a la Faculté de Médecine de Paris
SUMMARY
Scanning electron microscopy applied to the mycelial phase of Sporothrix schenckii shows a matted mycelium with conidia of a regular pattern. X-Ray microanalysis applied in energy dispersive spectroscopy and also in wavelength dispersive spectroscopy reveals the presence of several elements of Mendeleef’s classification.
RESUMO
Sporothrix schenckii foi estudado em microscopia eletrônica. Foram observados caracteres das hífas e dos esporos, vários elementos da classificação periódica foram postos em evidência graças à micro-análise a raios X.
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Submltted to publlcation on 12.27.1974.
* Laboratoire de Parasitologle et Mycologie, U.E.R. Cordeliers, 15, rue de l’Ecole de Médecine, 75270 – Paris-CEDEX 06 – France.
